Технологии
Поликремний
Производственная цепочка поликремния начинается с диоксида кремния (кремнезема). Кремнезем широко распространен в природе в виде песка, кварца и глины. В результате карботермического восстановления диоксида кремния в дуговой печи при температуре 1800C1 получается технический (металлургический) кремний, который затем проходит очистку химическими (через хлорсиланы) или физическими (прямыми) методами .
В настоящее время, наиболее распространен метод производства поликремния с использованием процесса и реактора Сименс (Siemens). Сименс-процесс это процесс химического осаждения поликремния из газовой фазы (chemical vapore deposition, CVD). В этом процессе нагретые до высокой температуры поликремниевые стержни-затравки помещаются в Сименс-реактор имеющий охлаждаемый куполообразный корпус. В реактор подается газообразный трихлорсилан (ТХС) . При прохождении через реактор ТХС разлагается на поверхности нагретых стержней-затравок с образованием поликремния. Когда стержни достигают нужного размера, они извлекаются из реактора и затем могут подвергаться дроблению.
В 2007 г. Сименс-процесс использовался на 90% действующих мощностей по производству поликремния. Кроме того, 70% строящихся проектов также планируют использовать технологию Сименс.
В то же время, сегодня ведутся активные разработки различных альтернативных технологий, основными преимуществами которых является экономия времени и энергии, а, следовательно, и снижение стоимости конечного продукта. К примеру, процесс производства поликремния в реакторах кипящего слоя (Fluidized Bed Reactor, FBR) постепенно наращивает свою долю рынка, поскольку ожидается, что он позволит снизить себестоимость поликремния.
Еще одна развивающаяся технология – прямая очистка технического (металлургического) кремния с получением улучшенного металлургического кремния (UMG), отвечающего требованиям т.наз. «солнечного качества». На сегодняшний день более 20 компаний работают в этом направлении. Хотя детали процесса в каждом случае могут отличаться, как правило, такие технологии подразумевают удаление примесей металлов и снижение содержания бора и фосфора. Чистота конечного продукта – свыше 99.99%.
Тем не менее, согласно прогнозам, технология Сименс сохранит свои доминирующие позиции в течение ближайших лет, хотя и уступит свою долю рынка таким технологиям как FBR, UMG и др.:
.jpg)
Источник: Photon Consulting, Lehman Brothers
Пластины/Фотоэлементы
В настоящее время около 90% производимых в мире солнечных фотоэлементов (ФЭП) изготавливается на основе кристаллического кремния. В 2007 г. 42,2% ФЭП были изготовлены на основе монокристаллического кремния, 45,2% - на основе поли- или мультикристаллического кремния, 2,2% - в виде микрокристаллических кремниевых лент.
Около 10,4% мирового рынка солнечных фотоэлементов сегодня составляют ФЭП, производимые в виде тонких пленок таких материалов, как аморфный кремний, теллурид кадмия, диселенид меди и индия (CIS) и других, нанесенных на различные подложки.
При сравнении различных технологий учитываются, прежде всего, такие факторы как стоимость и эффективность. Эффективность фотоэлектрического преобразования солнечной энергии в электрическую в помощью полупроводниковых фотоэлементов оценивается коэффициентом полезного действия фотоэлемента (КПД).
Максимальные значения КПД фотоэлементов и модулей, достигнутые в лабораторных условиях
| Тип |
Коэффициент фотоэлектрического преобразования, % |
| Кремниевые |
|
| Si (кристаллический) |
24,7 |
| Si (поликристаллический) |
20,3 |
| Si (тонкопленочная передача) |
16,6 |
| Si (тонкопленочный субмодуль) |
10,4 |
| III-V |
|
| GaAs (кристаллический) |
25,1 |
| GaAs (тонкопленочный) |
24,5 |
| GaAs (поликристаллический) |
18,2 |
| InP (кристаллический) |
21,9 |
| Тонкие пленки халькогенидов |
|
| CIGS (фотоэлемент) |
19,9 |
| CIGS (субмодуль) |
16,6 |
| CdTe (фотоэлемент |
16,5 |
| Аморфный/Нанокристаллический кремний |
|
| Si (аморфный) |
9,5 |
| Si (нанокристаллический) |
10,1 |
| Фотохимические |
|
| На базе органических красителей |
10,4 |
| На базе органических красителей (субмодуль) |
7,9 |
| Органические |
|
| Органический полимер |
5,15 |
| Многослойные |
|
| GaInP/GaAs/Ge |
32,0 |
| GaInP/GaAs |
30,3 |
| GaAs/CIS (тонкопленочный) |
25,8 |
| a-Si/mc-Si (тонкий субмодуль) |
11,7 |
Источник: PROGRESS IN PHOTOVOLTAICS: RESEARCH AND APPLICATIONS, Prog. Photovolt: Res. Appl. 2008; 16:61–67
Технологии производства ФЭП, использующие кристаллический кремний, в настоящее время преобладают; ожидается, что они сохранят свои доминирующие позиции и в ближайшее десятилетие. Эти технологии обеспечивают максимальные КПД фотоэлементов, производимых в промышленных масштабах (в среднем, 16%, лучшие образцы достигают КПД свыше 20%; средний КПД должен подняться до 17.5% к 2010 г.):

Источник: EPIA, Lehman Brothers
В основу технологий производства монокристаллического кремния и PV-пластин на его основе положены два метода:
- метод Чохральского (Czochralski method, CZ) – выращивание монокристалла кремния из расплава поликристаллического кремния, с последующим его распилом на пластины и их полировкой;
- метод бестигельной зонной плавки (Float-Zone method, FZ) – выращивание монокристалла по направлению перемещения узкой зоны его расплава, созданной индукционным нагревом, с последующим распилом на пластины и их полировкой.
Производство мультикристаллического кремния и PV-пластин основано на методе направленной кристаллизации с последующим распилом мультикристалла кремния на прямоугольные блоки и далее – на пластины.
Большинство производимых в настоящее время (2007 г.) кремниевых PV-пластин имеют толщину 210-240 мкм (лучшие показатели – 180 мкм) и размер пластин 100Х100 мм (4 дюйма), 125Х125 мм (5 дюймов), 150Х150 мм (6 дюймов), 210Х210 мм (8 дюймов). Согласно прогнозам, к 2010 г. толщина пластин уменьшится до 150 мкм, что должно привести к снижению коэффициента расхода кремния с 9 г/Вт до 7,5 г/Вт в 2010 г:

Source: EPIA
Для производства фотоэлементов в виде тонких пленок используются различные модификации метода химического осаждения из газовой фазы (CVD). Основные виды тонкопленочных ФЭП изготавливаются на основе таких материалов, как аморфный кремний (a-Si), теллурид кадмия (CdTe) и диселенид меди и индия (CIS).
Тонкопленочные технологии позволяют снизить стоимость конечного продукта благодаря тому, что они используют небольшое количество кремния, либо используют вместо него другие материалы. В то же время, тонкопленочные модули уступают по эффективности (на сегодня их КПД варьируется от 6% до 10%) и, таким образом, пока не могут серьезно конкурировать с технологиями, использующими кристаллический кремний.
С развитием тонкопленочных технологий производства фотоэлементов и, в особенности, повышения их КПД (на сегодняшний день, лучшие показатели КПД тонкопленочных модулей достигают 12%), доля тонкопленочных ФЭП будет расти с относительно более высокими темпами и в течение ближайших 5 лет может завоевать до 20% глобального рынка фотоэлементов. |